蔡司新品發布

   蔡司雙束電鏡Crossbeam 550 Samplefab 作為一款專為半導體行業TEM樣品制備開發的高端聚焦離子束掃描電子顯微鏡（FIB-SEM），蔡司雙束電鏡Crossbeam 550 Samplefab提供優異的靈活性、自動化功能和用戶友好設計，幫助半導體行業的樣品制備更加簡便高效。